產品詳情
簡單介紹：
TEC 冷熱臺是基于帕爾貼效應設計的高精度溫控實驗設備，集溫度控制與高透光觀測于一體。利用半導體熱電轉換特性為樣品提供可控高低溫環境，支持與顯微鏡、光譜儀等光學設備聯用，實現變溫過程中原位光學觀測與性能測試。無需制冷劑、無機械運動部件，解決傳統制冷設備振動、需耗材、控溫響應慢等問題，適用于對環境穩定性要求高的測試場景。
詳情介紹：
半導體器件溫控特性測試TEC冷熱臺
應用領域
材料科學
相變、熱膨脹、熱電性能研究
半導體與電子器件
溫控特性測試
光學與光譜學
拉曼、熒光、紅外光譜原位變溫測試
化學與催化反應
變溫反應過程觀測
教學與工業檢測
溫控環境下的質量檢測
參數規格
冷熱方式：TEC (帕爾貼)
溫度范圍：-40℃~150℃
溫度穩定性：±0.1℃
升溫速率：0~30℃/min (可調)
降溫速率：0~30℃/min (可調)
載樣臺尺寸：40mm×40mm
光路：反射/ 透射 (可選配)
公司介紹
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
