高溫壓電系數測試儀
高溫壓電系數測試儀
產品介紹
高溫壓電系數測試儀采用FPGA數字技術為激振器提供穩定的測試頻率,華測儀器基于弱信號采集技術的優勢,設計了一款用于高溫環境下的壓電系數測試儀器,相對傳統的d33測量儀測量精度效果好,測量量程范圍寬,可靠性提升,操作便捷
該儀器可以分析得出樣品壓電常數d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,可應用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關器件性能的評價與測試
產品特點
1、采用主流FPGA設計,實現30Hz~140Hz寬范圍測量
2、采用高阻放電荷放大器,減小測量過程中的損耗
3、采用直流線性加熱,減少渦流加熱噪聲
4、采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷
產品參數
儀器參數
測試頻率:調節范圍30Hz~140Hz
精度:±0.1Hz
測試載荷:靜態力10N
振蕩測試載荷:0.05N~0.5N可調
電容測量范圍:10pF~0.1μF
精度:±2%±1pF
溫度范圍:RT~650℃
加熱方式:PID控制
溫度穩定度:±0.05℃(>25℃);±0.1℃(<25℃)
軟件功能:可設溫控速率、可設溫控程序、可記錄溫控曲線
電性能參數
100到10000pC/N
精度:±2%±1pC/N;負載:1.0μF
10到1000 pC/N
精度:±2%±1 pC/N;負載:1.0μF
1到100 pC/N
精度:±2%±0.1 pC/N;負載:01.0μF
0到10 pC/N
精度:±2%±0.01 pC/N;負載:0.1μF
