-
新品推薦
-
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電...
-
多通道電流矩陣模塊
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
壓電材料 應(yīng)變測(cè)試儀
-
表面電位衰減系統(tǒng)
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
絕緣電阻率測(cè)試儀
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
探針臺(tái)
-
退火爐
-
冷熱臺(tái)
-
導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
壓電陶瓷強(qiáng)場(chǎng)介電性能分析...
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
壓電陶瓷強(qiáng)場(chǎng)介電性能分析...
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
多通道電流矩陣模塊
-
半導(dǎo)體高低溫絕緣電阻測(cè)試...
-
HCVD系列電阻分壓器
-
VD系列高壓探頭
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng)
-
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
多通道電流矩陣模塊
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
絕緣材料評(píng)估TSDC熱刺激電流測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
TSDC熱刺激電流測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器開發(fā),采用平行板電極法測(cè)量原理,支持測(cè)試電壓上限10kV,通過(guò)冷熱臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測(cè)量使用低噪聲線纜,減少測(cè)試導(dǎo)線的影響誤差,電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
除去電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
為了解決交流加熱的工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量的影響,華測(cè)儀器采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱,加入濾波等方式以減少測(cè)量過(guò)程中的影響因素,增加測(cè)量的精度
除去高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線阻抗 影響及內(nèi)部障蔽
1.采用阻抗更匹配的測(cè)量導(dǎo)線
2.縮短測(cè)量導(dǎo)線提高測(cè)量精度
3.測(cè)量的方式采用三電極測(cè)量,提高障蔽作用
優(yōu)化樣品溫度的測(cè)試方式及測(cè)量電極
1.在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì),減少空間及雜散電容的影響
2.采用參比樣品的方式進(jìn)行測(cè)量,樣品的溫度就是材料真實(shí)溫度
Huacepro操作軟件
1.多語(yǔ)界面:支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面
2.即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無(wú)須等待
3.圖例管理:通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示,了解測(cè)試狀態(tài)
4.使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理
5.故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障告警功能
6.試驗(yàn)報(bào)告:自定義報(bào)表格式,一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告,可導(dǎo)出EXCEL、PDF 格式報(bào)表
支持的硬件
1.外置6517B或其它高壓直流電源
2.外置的高壓放大器(±100V到±10kV)
3.低噪聲測(cè)試夾具
4.溫度管理器和高低溫腔體
其他測(cè)試功能
熱釋電測(cè)試、漏電流測(cè)試、用戶定義激勵(lì)波形
產(chǎn)品參數(shù)
溫度范圍:-185~400°C
控溫精度:±0.25°C
升溫速率:0~20℃(可設(shè)定)
測(cè)試頻率:電壓上限:±10kV
加熱方式:直流電極加熱
降溫方式:水冷
輸入電壓:AC:220V
測(cè)量方法:平行板電極法
樣品尺寸:φ≤25mm,d≤2mm
電極材料:銅或銀
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
低溫制冷:液氮
測(cè)試功能:可實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境下電阻、介電溫譜、TSDC、熱釋電測(cè)量
數(shù)據(jù)傳輸:RS-232(配有TSDC測(cè)試卡)
設(shè)備尺寸:180mmx210mmx50mm
應(yīng)用領(lǐng)域
應(yīng)用于電力、絕緣等材料領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等,通過(guò)TSDC電流可以比較直觀地研究材料的弛豫時(shí)間等相關(guān)的介電特性
公司簡(jiǎn)介
Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument. It is a company engaged in research and development, production and manufacturing. The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.
The products involve material testing instruments, signal amplification and conditioning, data acquisition and control, comprehensive performance evaluation of sensors, etc.
